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L’entrepreneuriat technologique au service de la durabilité : une exploration de l’écosystème entrepreneurial deeptech

Author

Listed:
  • Benjamin Cabanes

    (IHEIE - Institut des Hautes Etudes pour l’Innovation et l’Entrepreneuriat (IHEIE) - Mines Paris - PSL (École nationale supérieure des mines de Paris) - PSL - Université Paris Sciences et Lettres, i3-CRG - Centre de recherche en gestion i3 - X - École polytechnique - IP Paris - Institut Polytechnique de Paris - IP Paris - Institut Polytechnique de Paris - I3 - Institut interdisciplinaire de l’innovation - CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique)

  • Cédric Denis-Rémis

    (IHEIE - Institut des Hautes Etudes pour l’Innovation et l’Entrepreneuriat (IHEIE) - Mines Paris - PSL (École nationale supérieure des mines de Paris) - PSL - Université Paris Sciences et Lettres)

Abstract

Cet article questionne les relations complexes entre entrepreneuriat technologique et enjeux de durabilité. Après avoir cerné les contours de l'écosystème entrepreneurial qui semble émerger autour du concept de « deeptech » en France, nous avons analysé comment les enjeux de durabilité et d'innovation technologique s'articulent et se traduisent dans les discours de ces différents acteurs. Pour ces derniers, la « deeptech » caractérise les projets entrepreneuriaux basés sur des découvertes scientifiques et des ruptures technologiques au service d'un développement durable. Nous montrons cependant que la technologie est intrinsèquement puissance curative et puissance destructive, et par conséquent ces projets entrepreneuriaux basés sur l'innovation technologique sont par nature ambivalents. Enfin, nous proposons quelques recommandations afin d'encourager les acteurs de la « deeptech » à adopter une posture réflexive sur les stratégies poursuivies en lien avec la durabilité.

Suggested Citation

  • Benjamin Cabanes & Cédric Denis-Rémis, 2023. "L’entrepreneuriat technologique au service de la durabilité : une exploration de l’écosystème entrepreneurial deeptech," Post-Print hal-04342807, HAL.
    • Handle: RePEc:hal:journl:hal-04342807
    DOI: 10.3917/entin.057.0060
    as

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